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BeNano Zeta 電位分析儀

產(chǎn)品介紹


BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。BeNano Zeta 系統(tǒng)基于電泳光散射原理,樣品分散在樣品池中,在樣品池兩端施加一個(gè)電場,通過激光照射到電場中的樣品上,光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運(yùn)動(dòng)造成的散射光的多普勒頻移,進(jìn)而得到體系的 Zeta 電位信息。


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基本性能指標(biāo)


Zata電位測試

  檢測角度

  12°

  Zeta范圍

  無實(shí)際限制

  電泳遷移率范圍

  > ±20 μ.cm/V.s

  電導(dǎo)率范圍

  0-260 mS/cm

  Zeta測試粒徑范圍

  2 nm – >120 μm

趨勢測試

  模式  時(shí)間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

  溫控范圍

  -15℃-120℃

  冷凝控制

  干燥空氣或者氮?dú)?/span>

  標(biāo)準(zhǔn)激光光源

  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

  相關(guān)器

  最多 4000通道,1011動(dòng)態(tài)線性范圍

  檢測器

  APD (高性能雪崩光電二極管)

  光強(qiáng)控制

  0.0001%  - 100%,手動(dòng)或者自動(dòng)



檢測參數(shù)

●Zeta 電位

Zeta 電位分布

●電導(dǎo)率



檢測技術(shù)

●電泳光散射



選配件


 BAT-1自動(dòng)滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

 

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 BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測時(shí)間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

 

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相關(guān)技術(shù)    


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