產(chǎn)品介紹

BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

基本性能指標(biāo)

粒徑檢測(cè)

Zeta電位測(cè)試

分子量測(cè)試

微流變測(cè)試

趨勢(shì)測(cè)試

系統(tǒng)參數(shù)

檢測(cè)參數(shù)

動(dòng)態(tài)光散射

●流體力學(xué)尺寸 D_h

●分布系數(shù) PD.I

●擴(kuò)散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 k_d

●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

●計(jì)算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學(xué)信息G*，G‘，G“，η*，J

電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率

趨勢(shì)測(cè)試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試

靜態(tài)光散射

● 絕對(duì)分子量Mn、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數(shù)A₂

選配件

● 動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式

BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離，依次流出。通過(guò)檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào)，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào)，得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

● BAT-1自動(dòng)滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試，具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

● BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)I_US，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過(guò)定量的I_US和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

●  0°光電模塊

0°PD+CMOS模塊，分散液折射率，沉降法粒度和顆粒物濃度測(cè)試。

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