BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀
產(chǎn)品介紹
BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測(cè)技術(shù)，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。
基本性能指標(biāo)
粒徑檢測(cè)(動(dòng)態(tài)光散射法)
| 粒徑范圍 | 0.3 nm – 15 μm |
| 最小樣品量 | 3 μL |
| 檢測(cè)角度 | 173 °+90 ° + 12° |
| 分析算法 | Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS |
沉降法粒度測(cè)試
| 檢測(cè)方法 | 沉降法 |
| 粒徑范圍 | 1μm-50μm |
| 檢測(cè)角度 | 0° |
| 樣品量 | 1-3ml |
Zate電位測(cè)試
| 檢測(cè)角度 | 12° |
| Zeta范圍 | 無(wú)實(shí)際限制 |
| 電泳遷移率范圍 | > ±20 μ.cm/V.s |
| 電導(dǎo)率范圍 | 0 - 260 mS/cm |
| Zeta測(cè)試粒徑范圍 | 2 nm – >120 μm |
分子量測(cè)試
| 分子量范圍 | 342 Da – 2 x 107 Da |
微流變測(cè)試
| 測(cè)試能力 | 均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> |
趨勢(shì)測(cè)試
| 模式 | 時(shí)間和溫度 |
濃度檢測(cè)
| 檢測(cè)方法 | LEDLS |
| 測(cè)試能力 | 體積分?jǐn)?shù)和數(shù)量濃度 |
折光率測(cè)試
| 檢測(cè)方法 | 楔形池樣品折射（無(wú)需示蹤粒子） |
| 檢測(cè)角度 | 0° |
| RI范圍 | 1.2-1.6 |
| 精度 | 優(yōu)于0.1% |
| 最小樣品量 | 380 μL |
系統(tǒng)參數(shù)
| 溫控范圍 | -15°C - 120°C |
| 冷凝控制 | 干燥空氣或者氮?dú)?/span> |
| 相關(guān)器 | 50 mW 高性能固體激光器， 671 nm |
| 電泳遷移率范圍 | 快、中、慢多模式，最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動(dòng)態(tài)線(xiàn)性范圍 |
| 檢測(cè)器 | APD （高性能雪崩光電二極管）+PD+CMOS |
| 光強(qiáng)控制 | 0.0001% - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng) |
檢測(cè)參數(shù)
動(dòng)態(tài)光散射
●流體力學(xué)尺寸 Dh
●分布系數(shù) PD.I
●擴(kuò)散系數(shù) D
●顆粒間相互作用力因子 kd
●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布
●計(jì)算分子量
●溶液粘度和折射率
●流變學(xué)信息G*，G‘，G“，η*，J
電泳光散射
●Zeta電位及其分布
●帶電顆粒的電泳遷移率
透射
●透射濁度
● 顆粒物濃度
●液體折射率
●沉降法粒度和粒度分布測(cè)試
趨勢(shì)測(cè)試
● Zeta電位和粒徑的pH滴定
● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢(shì)測(cè)試
靜態(tài)光散射
● 絕對(duì)分子量Mn、Mw、Mz
● 分子量分布
● 第二維利系數(shù)A2
選配件
●動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式
BeNano動(dòng)靜態(tài)流動(dòng)模式（Flow Mode）是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端（FFF、GPC/SEC）相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離，依次流出。通過(guò)檢測(cè)每個(gè)流出組分的動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)和靜態(tài)光散射號(hào)，并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號(hào)，得到高分辨率且不依賴(lài)于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。
●BAT-1自動(dòng)滴定儀
樣品的Zeta電位和粒徑對(duì)于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴(lài)性，尤其是環(huán)境pH，不但影響Zeta電位的大小，而且會(huì)影響顆粒體系的帶電符號(hào)。BAT-1自動(dòng)滴定儀與BeNano系列連用，內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵，具有樣品攪拌能力，可以對(duì)于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動(dòng)化的酸堿滴定測(cè)試，具有測(cè)試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴(lài)于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄，避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。
●BeScan穩(wěn)定性分析儀
BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線(xiàn)等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過(guò)定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。
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